CY15B102QSN/CY15V102QSN,Excelon-Ultra 2-Mbit (256K × 8) Quad SPI F-RAM
功能說明
Excelon-Ultra CY15X102QSN 采用了高級鐵電工藝的高性能 2Mbit 非易失性存儲器。鐵電隨機存取存儲器 (即 F-RAM)與RAM 相同,是執行讀和寫操作的易失性存儲器。它提供 151 年的可靠數據保留時間,並解決了由串行閃存和其他非易失性存儲器造成的複雜性、開銷和係統級可靠性的問題。與串行閃存不同的是,CY15X102QSN 以總線速度執行寫操作。並且不引起寫操作的延遲。在每個字節成功傳輸到器件後,數據立即被寫入到存儲器陣列內。這時,可以開始執行下一個總線周期而不需要輪詢數據。此外,與其他非易失性存儲器相比,該產品提供了更多的擦寫次數。 CY15X102QSN 能夠提供 1014 次的讀 / 寫周期,或支持比 EEPROM 多 1 億次的寫周期。由於具有這些特性,因此 CY15x104QSN 非常適用於需要頻繁或快速寫操作的非易失性存儲器應用。示例的範圍包括從數據收集(其中寫周期數量是非常重要的)到滿足工業級控製(其中串行 Flash 的較長寫時間會使數據丟失)。
CY15X102QSN 將 2 Mbit F-RAM 與高速度四線 SPI(QPI)SDR和 DDR 接口相結合,從而增強 F-RAM 技術的非易失性寫入功能。該器件包含一個隻讀的器件 ID 和唯一 ID 特性,通過它們,SPI 總線主設備可以確定器件的製造商、產品容量、產品版本和唯一 ID。該器件包含一個唯一隻讀序列號,可用來識別某個電路板或係統。該器件支持片上 ECC 邏輯,可以在每個 8 字節數據單元內檢測和糾正單比特錯誤。該器件還包含在 8 字節數據單元中提供雙比特錯誤報告的擴展功能。 CY15X102QSN 還支持循環冗餘校驗(CRC),可用來校驗存儲器陣列中所存儲數據的完整性。
特性
■ 2 Mbit 鐵電隨機存取存儲器(F-RAM)被邏輯組織為 256K × 8
❐ 提供了 100 萬億次(1014)的讀 / 寫周期,幾乎為無限次數的耐久性。
❐ 151 年數據保留時間 (見數據保留時間與耐久性 on page 74)
❐ NoDelay™ 寫操作
❐ 高級高可靠性的鐵電工藝
■ 單和多 I/O SPI
❐ 串行總線接口 SPI 協議
❐ 支持 SPI 模式 0 (0, 0)和模式 3 (1, 1),適用於所有SDR 模式轉換
❐ 支持 SPI 模式 0 (0, 0),適用於所有 DDR 模式轉換
❐ 擴展型 I/O SPI 協議
❐ 雙線 SPI (DPI)協議
❐ 四線 SPI (QPI)協議
■ SPI 時鍾頻率
❐ 頻率高達 108MHz 的 SPI SDR
❐ 高達 54MHz 頻率的 SPI DDR
■ 芯片內執行 (XIP)模式下的存儲器讀 / 寫操作
■ 寫入保護,數據安全性,數據完整性
■ 使用寫保護 (WP)引腳提供硬件保護
■ 軟件模塊保護
■ 嵌入式 ECC 和 CRC 增強了數據完整性
❐ 檢測並糾正但比特錯誤的 ECC。在發生雙比特錯誤時,它將不糾正錯誤,但將通過 ECC 狀態寄存器進行錯誤報告
❐ CRC 將檢測原始數據的任意意外更改
■ 擴展的電子簽名
❐ 器件 ID 包含製造商 ID 和產品 ID
❐ 唯一 ID
❐ 用戶可編程序列號。
■ 專用 256 字節特殊扇區 F-RAM
❐ 專用特殊扇區寫和讀操作
❐ 內容可以在最多 3 個標準回流焊周期內保持不變
■ 高速度,低功耗
❐ SPI SDR 頻率為 108 MHz 時,有效電流為 10 mA(典型值)
❐ QSPI SDR 頻率為 108 MHz 並且 QSPI DDR 頻率為 54 MHz時,有效電流為 16 mA (典型值)
❐ 待機電流為 110 µA (典型值)
❐ 深度掉電模式電流為 0.80 µA (典型值)
❐ 休眠模式電流為 0.1 µA (典型值)
■ 低電壓操作:
❐ CY15V102QSN: VDD = 1.71 V 到 1.89 V
❐ CY15B102QSN: VDD = 1.8 V 到 3.6 V
■ 工作溫度範圍:–40 °C 到 +85 °C
■ 8 pin 小型塑封集成電路 (SOIC)封裝
■ 符合有害物質限製標準 (RoHS)
請點擊下載CY15B102QSN/CY15V102QSN數據手冊